Phasenmessende Deflektometrie ist ein seit Jahrzehnten etabliertes Verfahren zur optischen Vermessung der Topographie spiegelnder oder blanker Freiformflächen. Aufgrund seiner Robustheit und der hohen lokalen Auflösung wird das Verfahren in der Industrie z.B. zur Vermessung und Prüfung von Displays, lackierten Kfz-Karosserieteilen oder Gleitsicht-Brillengläsern seit langem erfolgreich eingesetzt.
In den letzten Jahren gab es neue Entwicklungen bzgl. der verwendeten Messaufbauten, Kodierungs- und Dekodierungsverfahren, die es erlauben, das Anwendungsspektrum der Deflektometrie deutlich zu erweitern: Neue mathematische Ansätze erlauben die Lösung des sogenannten „Höhenproblems“ ohne zusätzlichen zeitlichen oder apparativen Aufwand; neue Arten der Kodierung (Line-Shift-Deflektometrie, Frequenzcodierte Deflektometrie, Verwendung bandbegrenzter stochastischer Muster) und Dekodierung (spezielle Arten der Wavelet-Transformation) ermöglichen robustere oder genauere Messungen – bis hin zur Messung in der Bewegung während des Fertigungsflusses.
Vortrag am 19. Mai auf dem JENAer Optikkolloquium
Im Rahmen seines Vortrags „Fortschritte in der Deflektometrie“ stellt Prof. Dr. Christian Faber von der Hochschule Landshut auf dem JENAer Optikkolloquium am 19. Mai um 17 Uhr nun die neuesten Entwicklungen auf diesem Gebiet vor, vergleicht verschiedene Kodierungsverfahren und diskutiert fundamentale Grenzen.
Prof. Dr. Christian Faber ist seit 2012 Professor für Sensorik und Bildverarbeitung der Hochschule Landshut. Dort forscht er seitdem in mehreren Projekten im Bereich der optischen 3D-Messtechnik und deflektometrischen Messverfahren, u.a. in den Projekten FlyFlect3D und KISSMe3D. Seit 2010 ist Prof. Faber Mitglied im Vorstand der „Deutschen Gesellschaft für angewandte Optik“ (DGaO) sowie Mitherausgeber der Online-Zeitschrift „DGaO-Proceedings“.
Kostenfreie Teilnahme zur Online-Veranstaltung
Die Veranstaltung ist offen für alle Interessierten und kann ab sofort auf der Veranstaltungsseite gebucht werden. Die Teilnahme ist kostenfrei. Die Veranstaltung findet online statt. Alle Teilnehmenden erhalten am Veranstaltungstag um 15 Uhr eine Nachricht mit den Zugangsdaten und Einwahlhinweisen.
Über das JENAer Optikkolloquium
Seit Mai 2018 findet das traditionelle JENAer Carl-Zeiss-Optikkolloquium als JENAer Optikkolloquium am Abbe Center of Photonics auf dem Beutenberg Campus Jena statt. Es ist offen für alle Interessierten aus Forschung, Wirtschaft und Bildung und versteht sich als Forum für neue Technologien rund um die Photonik.
Vortrag über Fortschritte in der Deflektometrie
Prof. Dr. Christian Faber von der Hochschule Landshut spricht auf dem JENAer Optikkolloquium am 19. Mai über neue Mess- und Kodierungsverfahren. Die Veranstaltung findet online statt; die Teilnahme ist kostenfrei.
